Máy đo và phân tích trở kháng Hioki LCR có dải tần từ thiết bị 1 mHz đến 3 GHz để phù hợp với nhiều ứng dụng trong việc kiểm tra các linh kiện điện tử. IM7581 cung cấp thời gian đo cao nhất là 0,5 ms trên dải tần từ 100 kHz đến 300 MHz, lý tưởng cho việc sản xuất khối lượng lớn hạt chip ferit và cuộn cảm chip.
Đo LCR bằng Thiết bị kiểm tra SMD IM9201: Dòng máy phân tích trở kháng IM7580Dòng IM7580 bao gồm năm kiểu máy có tần số đo từ 1 MHz đến 3 GHz. Được sử dụng kết hợp với Dụng cụ thử nghiệm IM9201, có thể chứa sáu kích thước SMD, các thiết bị dòng IM7580 cho phép bạn đo các mẫu vật một cách dễ dàng và đáng tin cậy. |
Các tính năng chính của IM7581:
Tần số nguồn thử nghiệm 100 kHz đến 300 MHz | Tốc độ kiểm tra nhanh nhất 0,5 miligiây (Thời gian đo Analog) | ±0,72% rdg. Độ chính xác cơ bản |
Phương pháp RF IV | Thân máy cỡ nửa giá và đầu thử cỡ lòng bàn tay | Kiểm tra tiếp xúc toàn diện (thông qua kiểm tra DCR, từ chối Hi-Z hoặc phán đoán dạng sóng) |
Thực hiện quét tần số, quét mức và đo khoảng thời gian trong Chế độ phân tích |