Bộ cung cấp nguồn AC
SEF800 Series: SEF800-N, SEF800-G Kosaka Laboratory Roughness and Contour Measuring Instrument – Thiết bị đo độ nhám và biên dạng
SEF800 Series: SEF800-N, SEF800-G
 |
Loại máy đo cầm tay. Biên dạng bề mặt có thể được hiển thị trong thời gian thực.
|
Xem thêm các sản phẩm khác của Kosaka Laboratory khác tại đây!
Thông số kỹ thuật
SEF800-G
Surface roughness
| Z 最大測定範囲 Z Max measuring range | 600 µm |
| X 最大測定距離 X Max measuring range | 100 mm |
| Z 最小分解能 Z Min resolution | 0.04 nm |
| 真直度 Straightness | 0.2 µm/100 mm |
| 検出器 Pick-up | PU-DJ2S-60 |
| 触針 Stylus | R2 µm 60° |
Contour (form)
| Z 最大測定範囲 Z Max measuring range | 50 mm |
| X 最大測定距離 X Max measuring range | 100 mm |
| Z 最小分解能 Z Min resolution | 0.1 µm |
| 真直度 Straightness | 1.0 µm/100 mm |
| 検出器 Pick-up | PU-FG25 |
| 触針 Stylus | 片刃形 Chisel type R25µm 8° |
| 設置寸法 Instellation size | W1500 mm×D800 mm |
SEF800-G
Surface roughness
| Z 最大測定範囲 Z Max measuring range | 600 µm |
| X 最大測定距離 X Max measuring range | 100 mm |
| Z 最小分解能 Z Min resolution | 0.04 nm |
| 真直度 Straightness | 0.2 µm/100 mm |
| 検出器 Pick-up | PU-DJ2S-60 |
| 触針 Stylus | R2 µm 60° |
Contour (form)
| Z 最大測定範囲 Z Max measuring range | 50 mm |
| X 最大測定距離 X Max measuring range | 100 mm |
| Z 最小分解能 Z Min resolution | 0.1 µm |
| 真直度 Straightness | 1.0 µm/100 mm |
| 検出器 Pick-up | PU-FG25 |
| 触針 Stylus | 片刃形 Chisel type R25µm 8° |
| 設置寸法 Instellation size | W1500 mm×D800 mm |
| Model | Pick-up | X-Max measuring range | Column stroke | Bed size |
| Z Max measuring range | ||||
| Z Min resolution | ||||
| SEF800-G | Độ nhám:
Biên dạng:
|
*100 mm
200 mm |
*300 mm
500 mm 700 mm |
*650(W) mm x 335(D)mm
1000(W) mm x 450(D)mm 1250(W) mm x 450(D)mm |
| SEF800-N | Độ nhám:
Biên dạng:
|
Tải xuống: Kosaka Laboratory Catalog
